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0531-88608063簡要描述:真空衰減泄漏測試儀的核心工作原理基于真空 / 壓力衰減法 ,這是一種利用氣體在壓力差作用下流動特性來檢測泄漏的方法。
真空衰減泄漏測試儀
真空衰減泄漏測試儀
核心優(yōu)勢剖析
高精度檢測
真空衰減泄漏測試儀配備了先進(jìn)的高精度 CCIT 測試技術(shù),能夠精準(zhǔn)地檢測到極其微小的泄漏孔。即使是直徑僅為微米級別的細(xì)微漏洞,也難以逃過它的 “法眼"。在對精密電子元件的密封檢測中,這些元件內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜,對密封性要求,一個微小的泄漏都可能導(dǎo)致電子元件的性能下降甚至失效 。真空衰減泄漏測試儀憑借其高精度的檢測能力,能夠準(zhǔn)確地檢測出電子元件外殼上的微小泄漏點,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性 ,有效保障了產(chǎn)品包裝的完整性,為產(chǎn)品的質(zhì)量提供了堅實的保障。
無損檢測特性
無損檢測是真空衰減泄漏測試儀的一大顯著優(yōu)勢。與傳統(tǒng)的一些檢測方法不同,它在檢測過程中不會對被測物體造成任何形式的破壞。無論是易碎的玻璃制品,還是柔軟的塑料包裝,又或是表面帶有特殊涂層的產(chǎn)品,它都能在不損傷被測物的前提下完成檢測工作 。這一特性使得經(jīng)過檢測的產(chǎn)品仍然可以繼續(xù)正常使用或進(jìn)入銷售環(huán)節(jié),大大降低了檢測成本和資源浪費 。以食品行業(yè)為例,對各類包裝食品進(jìn)行密封性檢測時,使用真空衰減泄漏測試儀既能確保食品包裝的密封性符合標(biāo)準(zhǔn),又不會破壞食品的包裝和內(nèi)容物,保證了食品的新鮮度和安全性,讓消費者能夠放心購買和食用 。
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